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31.
林光西 《岩矿测试》2008,27(2):151-152
采用硝酸-氢氟酸-高氯酸溶解样品,以Fe3+作减缓剂,不需分离富集,用氢化物发生-原子荧光光谱法直接测定地球化学样品中痕量碲。对测定介质、KBH4浓度、铁盐的作用等条件进行试验。方法检出限为0.0031μg/g,精密度(RSD,n=11)<6.10%。方法用于国家一级地球化学标准物质中痕量碲的测定,结果与标准值一致。  相似文献   
32.
高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪应用现状和进展   总被引:4,自引:2,他引:2  
吉昂  李国会  张华 《岩矿测试》2008,27(6):451-462
对高能偏振能量色散X射线荧光光谱仪基本特点及其用于环境、生物、地质样品中痕量元素的分析和RoSH检测等领域的应用现状予以介绍,并对二次靶与滤光片在痕量元素分析中的应用作了探讨。  相似文献   
33.
能量色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中钼铅铁铜   总被引:1,自引:1,他引:0  
田文辉  王中岐  张敏 《岩矿测试》2008,27(3):235-236
建立了能量色散X射线荧光光谱法测定钼矿石中钼、铅、铁、铜的方法,讨论了粒度效应、矿物效应的影响因素,确定了采取粉末样品,用系列标准样品建立工作曲线,通过元素间相互校正消除基体效应,用内控标准样品考察了方法的精密度(RSD,n=11)为0.44%~15.4%。实际样品的测定结果和化学法相符,可满足日常分析工作需要。  相似文献   
34.
X射线衍射数据分析系统评价   总被引:4,自引:1,他引:3  
以贵州省高灰、高污染组分煤中矿物质的分析为例,应用Bruker AXS D8 Advance衍射仪测得煤中矿物相的X射线衍射图谱,分别应用数据分析系统EVA 12.0、X’Pert HighScore 2.0和MDI Jade 5.0对矿物物相组成的原始测试数据进行定性分析,通过对比分析过程和结果的差异比较了三款软件系统之间的异同和优劣。  相似文献   
35.
XEPOS型偏振能量色散X射线荧光光谱仪分析蒙古铁矿石   总被引:5,自引:4,他引:1  
以熔融玻璃片和粉末压片制样,采用XEPOS型偏振能量色散X射线荧光光谱仪,建立了铁矿石中总铁、氧化钙、氧化镁、二氧化硅、三氧化二铝、硫、磷、铜等组分的快速分析方法。着重讨论硫、磷两元素测定的可行性和Lucas-Tooth、Price数学校正模型的适应性和改善方法的途径。  相似文献   
36.
激光拉曼光谱法分析多种显微组分荧光变化及其应用   总被引:1,自引:1,他引:0  
利用激发488 nm激光的氩离子激光器作为RENISHAW inVia型激光拉曼光谱仪的光源,建立了多种显微组分荧光变化(FAMM)分析方法,并对镜质体反射率明显抑制的东营凹陷有效烃源岩进行了测定。结果表明,东营凹陷有效烃源岩的有机质类型越好,镜质体反射率抑制程度越高,有效烃源岩的真实成熟度应主要处于0.64%~1.30%,而不是实测镜质体反射率所反映的0.37%~1.10%。  相似文献   
37.
利用三维荧光激发.发射光谱(3DEEMs)及荧光偏振法研究了3例腐殖酸和1例湖泊溶解有机物(DOM)在不同腐殖酸浓度、离子强度和pH条件下的荧光光谱特性.实验结果表明,随着浓度增大,各腐殖酸样的荧光强度增大,其中垃圾渗滤液腐殖酸和Pahokee泥炭腐殖酸的荧光峰出现红移.随着浓度进一步增大,腐殖酸的荧光偏振值增大,由此推断在此浓度范围内腐殖酸由于分子间的排斥作用使其构型出现伸展.离子强度增大导致腐殖酸及阿哈湖DOM的荧光强度降低.随着氯化钾(KCI)浓度增大,Fluka腐殖酸的荧光峰A蓝移,荧光峰B的荧光偏振值出现减小,推测是由于静电中和作用使其荧光基团发生卷曲造成的.离子强度对其余腐殖酸样和阿哈湖DOM的其他荧光特性没有明显的影响.总的来说,pH值的变化对腐殖酸和湖泊DOM的荧光特征的影响是很明显的.随着pH值增大,腐殖酸和湖泊DOM的荧光强度增强.而pH值减小时,Fluka腐殖酸和Pahokee泥炭腐殖酸的荧光峰(A峰)蓝移,当pH值降到5时,Fhka腐殖酸的荧光峰突然红移到最大,随后又继续蓝移;垃圾渗滤液腐殖酸和阿哈湖DOM的荧光峰位无明显的漂移.所有样品的荧光偏振值都减小(但阿哈湖DOM的A峰变化不大),但在pHi≤5时又增大,这种现象表明随着pH值降低,腐殖酸和湖泊DOM中有机大分子发生卷曲,但在pH≤5时由于羧基的质子化又以平面伸展构型出现在溶液中.  相似文献   
38.
High-pressure single-crystal X-ray diffraction measurements of lattice parameters of the compound Li2VOSiO4, which crystallises with a natisite-type structure, has been carried out to a pressure of 8.54(5) GPa at room temperature. Unit-cell volume data were fitted with a second-order Birch-Murnaghan EoS (BM-EoS), simultaneously refining V 0 and K 0 using the data weighted by the uncertainties in V. The bulk modulus is K 0 = 99(1) GPa, with K′ fixed to 4. Refinements of third order equations-of-state yielded values of K′ that did not differ significantly from 4. The compressibility of the unit-cell is strongly anisotropic with the c axis (K 0(c) = 49.7 ± 0.5 GPa) approximately four times more compressible than the a axis (K 0(a) = 195 ± 3 GPa).  相似文献   
39.
In situ strength measurements on natural upper-mantle minerals   总被引:1,自引:0,他引:1  
Using in situ strength measurements at pressures up to 10 GPa and at room temperature, 400, 600, and 700°C, we examined rheological properties of olivine, orthopyroxene, and chromian-spinel contained in a mantle-derived xenolith. Mineral strengths were estimated using widths of X-ray diffraction peaks as a function of pressure, temperature, and time. Differential stresses of all minerals increase with increasing pressure, but they decrease with increasing temperature because of elastic strain on compression and stress relaxation during heating. During compression at room temperature, all minerals deform plastically at differential stress of 4–6 GPa. During subsequent heating, thermally induced yielding is observed in olivine at 600°C. Neither orthopyroxene nor spinel shows complete stress relaxation, but both retain some stress even at 700°C. The strength of the minerals decreases in the order of chromian-spinel ≈ orthopyroxene > olivine for these conditions. This order of strength is consistent with the residual pressure of fluid inclusions in mantle xenoliths.  相似文献   
40.
Optical spectrum based measurement of flotation slurry contents   总被引:1,自引:1,他引:0  
Monitoring and control of a flotation circuit is mainly based on the information gained by assaying the process slurry lines. In flotation plants, usually an X-ray fluorescence analyzer is used to obtain the on-line assays. This article introduces the visual and near-infrared reflectance spectroscopic analysis of the process slurries as a supplementary method which complements the on-line assay information available from an X-ray fluorescence analyzer. It is shown that the spectral information can be used to accurately predict the element contents in the slurry in between successive XRF analyses. Since the spectral measurements can be taken with high frequency as opposed to the sparse X-ray fluorescence analysis, a practically continuous on-line estimate of the slurry contents is reached. These estimates can be used in the plant control to improve the overall performance of the circuits and to yield also economical savings. Additionally, the frequent monitoring of the grades can provide means to eliminate rapid disturbances in the circuits, thus improving the stability of the process.  相似文献   
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